您的位置: 首頁 > 技術(shù)文章
基于光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)的多參數(shù)檢測(cè)方法
基于光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)的多參數(shù)檢測(cè)方法
隨著科技的不斷發(fā)展,各類電子設(shè)備與光電系統(tǒng)在許多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用,例如在光通信、顯示技術(shù)、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)中,準(zhǔn)確的光電參數(shù)檢測(cè)顯得尤為重要。基于光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)的多參數(shù)檢測(cè)方法,為精確測(cè)量與綜合評(píng)估設(shè)備性能提供了新的思路。這種方法能夠同時(shí)測(cè)量多種物理量,如光強(qiáng)、色溫、電流等,......
一、產(chǎn)品特性1、多種光學(xué)輸入直接進(jìn)入狹縫或通過光纖2、波長范圍:200-1050nm可選3、光譜分辨率:0.2nm4、光纖耦合器:SMA9055、雜散光:6、高速數(shù)據(jù)采集,積分時(shí)間:毫秒級(jí)7、焦距72.5mm對(duì)稱非交叉H-T光路8、進(jìn)口閃耀......
共 137 條記錄,當(dāng)前 35 / 35 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁 
Contact Us
  • QQ:24448278
  • 郵箱:24448278@qq.com
  • 傳真:
  • 地址:浙江杭州紫金科創(chuàng)園福華大廈1幢4樓

掃一掃  微信咨詢

©2025 杭州雙色智能檢測(cè)儀器有限公司 版權(quán)所有    備案號(hào):浙ICP備2021002890號(hào)-4    技術(shù)支持:儀表網(wǎng)    Sitemap.xml    總訪問量:155546    管理登陸